霍爾效應量測系統
簡稱	HCS
中文名稱	霍爾效應量測系統
英文名稱	Hall Characterization System
圖片
功能說明	高精度與高度可重現的半導體電性測量 採用 Van der Pauw 技術與 6 段電流設定（1 nA～20 mA），有效降低測量誤差與電氣噪聲。 桌上型設計，操作簡單方便 緊湊小巧，搭配永久磁鐵磁場模組與低溫測量系統（77 K），可輕鬆放置於實驗室桌面。 多尺寸樣品全面兼容 支援多種尺寸樣品（約 5 × 5 mm～20 × 20 mm），可視需求選配更大尺寸樣品板。 即時圖表檢測，快速掌握樣品電性 I‑V 與 I‑R 曲線圖，即時檢查歐姆接觸品質與基本電性特徵。 自動化數據分析，一次完成多項電性參數 載流子濃度、遷移率、電阻率、導電率、霍爾係數、磁阻及垂直/水平電阻比等。
儀器服務項目	HMS-3000 是一套完整的霍爾效應 (Hall effect) 測試系統，可用於測量半導體樣本的下列電性與載子特性： 載子濃度 (carrier concentration)、遷移率 (mobility)、電阻率 (resistivity) 以及霍爾係數 (Hall coefficient)，並判定 N 型或 P 型半導體
儀器購置日期	115/07/16
儀器廠牌	ECOPIA
型號	HMS-3000
儀器規格	主機尺寸：約 32 × 30 × 10.5 公分 (寬 × 深 × 高)，重量約 7.7 公斤 輸入電流範圍 (DC)：1 nA ~ 20 mA。 可測電阻率 (resistivity)：10⁻⁴ ~ 10⁷ Ω·cm 可測載子濃度 (carrier concentration)：大約 10⁷ ~ 10²¹ /cm³ 可測遷移率 (mobility)：大約 1 ~ 10⁷ cm²/V·s