X-ray繞射分析儀（XRD）
簡稱	XRD
中文名稱	X光繞射儀
英文名稱	X-ray Diffraction
圖片
功能說明	New sixth generation MiniFlex X-ray diffractometer (XRD) is a multipurpose analytical instrument that can determine: phase identification and quantification, percent (%) crystallinity, crystallite size and strain, lattice parameter refinement, Rietveld refinement, and molecular structure. It is widely used in research, especially in material science and chemistry, as well as in industry for research and quality control.
儀器服務項目	X光繞射分析（材料相鑑定、結晶顆粒大小分析、結晶度、定量…）、薄膜低掠角掃描、殘留應力分析、極圖分析與高解析Rocking Curve分析等。
儀器購置日期	111/12/28
儀器廠牌	日本 Rigaku
型號	MiniFlex600
儀器規格	(1)X光源 1.X光管: 銅靶 使用密封度較佳且光源位置穩定性高的玻璃光管 2.高壓產生器: ≧600W 至少可達40kV/15mA, 電壓電流可步進調整 (2)測角儀: 1.垂直式測角儀: 半徑≧150mm ,直徑≧300mm 2.2Θ作動範圍至少含蓋-3~145度 (3)光學狹縫系統: 1.配備隨角度自動調整Divergence slit 系統 2.須配備全角度適用之散射光阻擋裝置,不需抽換不同配件便可同時達到降低低角域背景雜訊及不會遮蔽高角域入射光造成圖譜強度不準確的效果 3.抽換式狹縫系統至少俱備以下狹縫配件: Divergence slit, Divergence Height limit slit, Scattering slit, Receiving slit, Soller slit (4)高速半導體偵測器: 1.需可切換高速模式/螢光消除模式/SC模式 2.最大總計數強度: >108 cps 3.有效面積:≧256mm2
主要配件	液體載台、變溫載台、穿透式X光繞射量測用樣品載台
樣品準備	晶體試片不可大於 2×2×0.2cm，亦不可太小。
注意事項	1.不接受具揮發性與毒性之試片之粉末試樣。 2.適用樣品型態:粉末與固體。